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產品實驗室

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匹配测试
匹配测试

通過CE測試,進行頻率、驅動功率及電路起振調整,推薦最適電路匹配方案與晶體元件,協助客戶解決晶體回路精度不足、不起振等問題。

失效测试
失效测试

針對頻率嚴重偏離設計範圍導致CLK無法正常供給周邊電路,或在有效使用溫度範圍內發生CLK無輸出/偏離規格,以及因石英晶體元件失效引發整機故障等情況進行分析。

样品可靠性测试
样品可靠性测试

運用各類環境試驗設備模擬高溫、低溫、高濕等氣候條件及溫度變化,對產品可靠性與使用壽命進行驗證。

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